适用的显微技术
- 各种光学显微镜
- 扫描电镜——扫描电子显微镜
- TEM——透射电子显微镜
- EDS——能量色散X射线光谱仪
- 微型红外光谱——傅立叶变换红外光谱仪
- SWLIM——扫描白光干涉显微镜
- 共焦拉曼显微镜/光谱仪
光学显微镜：
要对小颗粒进行分类和鉴别，首先需要结合使用透射光和反射光在显微镜下观察颗粒。若颗粒具有独特的特性，则还可以使用显微镜将其拍摄下来，然后再对其进行测量和显示，以用于报告或广告宣传。我们拥有多种光学显微镜，可提供多种放大倍数，满足各种样品的观察需求。
扫描电子显微镜(SEM):
如果需要对光学显微镜下的观察结果进行确认或者颗粒不透明，则可使用电子显微镜进行二次测试，以对颗粒进行成像和分析。电子显微镜与光学显微镜的直接区别在于,SEM生成的图像是灰度图像。这类图像呈现的景深和细节比光学显微镜更佳,另外,当电子撞击样品时,产生的X射线可展现样品中存在的各种元素。若再搭配使用能量色散X射线光谱仪(EDS),便可对样品进行成像的同时确定样品中存在的元素。
透射电子显微镜(TEM):
如果颗粒太小，无法使用光学显微镜或扫描电子显微镜进行分析和成像，则必须在透射电子显微镜下进行观察和分析。对于薄样品或可以制成薄片的样品,TEM成像技术可以呈现颗粒的晶体结构及其元素组成(EDS)。TEM可以分析和鉴别粘土,颜料颗粒,薄膜和其他纳米颗粒。有些材料（如细矿物纤维、粘土颗粒和烟灰）只需进行很少的准备即可进行分析。而另一些材料则需要在分析前进行大量样品制备工作。
微型傅立叶变换红外光谱仪(红外光谱):
塑料颗粒（容易变形）可以在显微镜下使用反射和透射红外光进行表征。对于聚合物材料,可以制备样品并使用红外光谱进行表征和鉴定。然后，可将得出的红外光谱与数千个参考光谱进行比较，从而确定聚合物类型。如果生产设施生产的成品中有时会出现不必要的颗粒，则可以建立一个红外光谱参考库，用于鉴别工艺中所用的材料，这样有助于对客户退货进行表征。
扫描白光干涉显微镜(SWLIM)
表面表征所采用的的方法稍有不同，可使用能够测量表面粗糙度并提供三维表面图像的显微镜。这种显微镜可利用反射白光进行焦点扫描，从而创建三维数据集，您可以根据该数据集计算表面粗糙度参数。与轮廓仪不同,SWLIM是一种非接触式技术,几乎不需要制备样品。