입자시험기관（PTA）은은에서가장광범위한입도입도분석기능포트폴리오를하고있습니다하고하고하고하고

微粒学의계약서비스에는어떠한입도분석문제또는응용분야별요구사항이라도해결할수있는6가지이상의다양한크기측정기법이포함되어있습니다。微粒学의직원들은결과해석에도움이되는경험과과학지식을보유하고있으므로고객에게적절한결정을내리는데필요한풍부한데이터를제공할수있습니다。

실시가능한테스트

  • 동적동적산란（DLS）을통한입도분석
  • 정적광산란을통한입도분석
  • X선침강기법
  • 전기저항법
  • 공기투과율입도분석법
  • 체분석
  • 扫描电镜-주사전자현미경검사
  • 입자형상측정
  • 광차폐법
  • 제타전위전하반발측정

입도특성화완벽
가이드백서

동적동적산란（DLS）을통한입도분석

이분석법은나노입자특성규명사용되며，동적광산란은액체현탁액또는확산입자의운동으로인산란되는빛세기세기변화하여입자가클수록브라운운동이느려집니다。이방법은정적광산란측정보다입자가더높은용액에서선호됩니다。

사용가능한기기:

  • nanoplus hd.

정적광산란을통한입도분석

레이저광산란기법은및fraunhofer이론을이용하여광산란패턴입도분포를결정합니다。입자가작을수록굴절및이정적광산란패턴에더큰을줍니다줍니다줍니다줍니다。일반적인측정범위0.02um〜2000um입니다。

사용가능한기기:

  • Micromeritics土星高分辨率数字化仪
  • 莫尔文Mastersizer 3000
  • 莫尔文Mastersizer 2000

X선침강기법

X선침강기법은입자들이액체매질에서가라앉을때크기별로분리되는자연적인경향을이용합니다。각크기등급의질량분율은X선연의흡착에의해결정됩니다。이방법은입도분포가좁은곳에서탁월한분해능을제공합니다。측정범위는0.1嗯~ 300嗯입니다。

사용가능한기기:

전기저항법

일반적으로oulter원리로알려진전기저항법은작은를사이에둔전해질전해질잠긴두사이에만들어진전기회로를이용용。입자가전해질의흐름에오리피스를통과할때입자부피에비례하는전기가생성생성。이기법은은용액에서에서입자를하여입도및입자입자농도측정하는데모두용용

입도범위는0.5嗯~ 300嗯입니다。

이방법은보다확립된광산란기술에대한직교방법으로서탁월한접근방식이며,광차폐기법과같이입자의형상과광학적특성에영향을받지않습니다。

사용가능한기기:

  • Micromeritics Elzone II 5390

공기투과율입도분석법

이기법은충진된분말층에서압력압력강하라는를이용합니다。시료의높이를변경하여이에따른따른층의의으로써으로써방정식방정식에따라으로써적과를압력강하유속유속로서결정압력강하와SAS는0.2μm〜75μm범위범위의입도를측정압축정확도0.05mm미만입니다。이방법은설정된fisher수와동일한상관관계를결과를생성합니다。

사용가능한기기:

  • Micromeritics SAS Sabive AutoSizer

체분석

입자를수평또는수직방향으로교반합니다。이렇게하면입자가체의망에남거나통과됩니다。입자의통로는체눈의크기,입자의방향및체표면과해당입자의접촉횟수에따라달라집니다。입경측정범위는45嗯~ 10毫米입니다。

사용가능한기기:

    • 泰勒摇RX-29

扫描电镜-주사전자현미경검사

SEM은전자집속빔을사용하여확대된이미지를형성하는분석도구입니다。높은공간해상도의표면형상및조성정보를실시간분석으로얻을수있습니다。SEM에의한이미지분석으로응집에서개1차별입자를분리할수있으며,사용가능한SEM소프트웨어를통해처리하면입자자체및입자분포의직접적인측정이가능합니다。

사용가능한기기:

입자형상측정

입자형상효과는잉크와토너의유동성및분무패턴,연마효율성및생체이용률과같은최종생성물의성능매개변수에중요한영향을미치는경우가많습니다。

이러한분석기법들은모든입자가구형이라는것을전제로때문에（실제로실제로아니지만）광산란및차폐을기반으로입도분석을하기위한검증변수로서형상에이이이이이합니다에。

微粒学분석서비스는광학현미경,주사전자현미경및동적이미지분석을사용하여입자형상매개변수를보고합니다。

동적이미지분석은고해상도CCD카메라를사용하여검출영역을통과하는입자의이미지를캡처하는자동화된기술입니다。이이미지가캡처되면다른형상매개변수를적용하여입도분포를계산할수있습니다。

사용가능한기기:

광차폐법

이기술은액체현탁액내의희석된입자농도를이용합니다。현탁액을레이저광원과검출기사이로통과시킵니다。레이저가흐름내의개별입자를비추면검출기에그림자가생기거나빛이차단됩니다。이빛의차단을차폐라고합니다。검출기는이광도의감소를측정하고검량선을사용하여입자도와시료의농도를결정하기위해신호를처리합니다。입도범위0.5 ~ 400마는이크로미터입니다。

이기법은은사액액내미립자를검출하기위한위한위한방법<788>및<789>에에유용합니다。

사용가능한기기:

  • 颗粒分级系统

제타전위전하반발측정

제타전위는입자사이의정전기또는전하반발/인력크기의척도입니다。제타전위는액체의특성과입자의특성에따라달라집니다。용액또는유화액의집합성안정성을결정하는데중요한역할을합니다。제타전위가클수록,반발력이강해지고시스템이더안정화됩니다。

사용가능한기기:

  • Nanoplus HD-3