가능한현미경검사기능
- 다양한광학현미경
- 扫描电镜- - - - - -주사전자현미경검사(扫描电子显微镜)
- TEM——투과전자현미경검사(透射电子显微镜)
- EDS-에너지분산X선분광법(能量色散X射线能谱法)
- 显微红外光谱——푸리에변환적외선분광법(傅里叶变换红外光谱学)
- SWLIM——백색광주사간섭현미경검사(扫描白光干涉显微镜)
- 공초점라만현미경법/분광법
광학현미경검사:
작은입자의분류와식별은투과광과반사광의조합을사용하는현미경을통해입자를관찰하는것에서시작합니다。현미경을통해촬영된입자는특히입자의고유한특성이있을때보고용이나광고용으로측정하여표시할수있습니다。시료관찰에필요한배율을충족하기위해다양한종류의광학현미경을구비하고있습니다。
주사전자현미경검사(SEM):
광학현미경으로관찰한것을확인하기위해두번째테스트가필요하거나입자가불투명한경우에는빛대신전자를사용하여입자를이미지화하고분석할수있습니다。가장눈에띄는차이점은SEM으로생성된이미지가회색조라는것입니다。이미지는광학현미경보다우수한피사계심도와디테일을보여주며,전자가시료에조사될때시료에존재하는원소에해당하는X선이생성된다는추가적인이점도있습니다。에너지분산X선분광계(EDS)를추가하면시료를이미지화하는동안시료에존재하는원소를결정할수있습니다。
투과전자현미경검사(TEM):
광학현미경또는주사전자현미경으로분석및이미지화하기에너무작은입자는투과전자현미경으로관찰하여분석해야합니다。얇은시료또는얇게만들수있는시료의경우,TEM이미징기법으로입자의결정구조와원소조성을밝혀낼수있습니다(EDS)。TEM으로점토,색소입자,박막및기타나노미터단위크기의입자를분석하고식별할수있습니다。얇은광물섬유,점토입자및그을음과같은일부물질은분석을위한전처리가거의필요하지않습니다。그러나다른물질들은분석전에상당한시료전처리가필요합니다。
마이크로푸리에변환적외선분광법(红外光谱):
가소성(쉽게변형되는)입자는반사및투과적외선을사용하는현미경으로특성을규명할수있습니다。특성규명및식별이필요한고분자물질을红外光谱을위해전처리할수있습니다。생성된적외선스펙트럼을수천개의참조스펙트럼과비교하여고분자의유형을결정할수있습니다。때때로최종생성물에바람직하지않은입자가나타나는제조시설은고객반품의특성규명을지원하기위해공정에사용된물질을식별하는적외선스펙트럼의참조라이브러리를유지합니다。
백색광주사간섭현미경검사(SWLIM):
표면의특성규명을위해서는표면거칠기를측정하고표면3차의원이미지를제공할수있는현미경을사용하는약간다른접근방식이필요합니다。이현미경은초점을통해스캔하는동안반사된백색광을이용하여표면거칠기매개변수를계산할수있는3차원데이터세트를생성합니다。스타일러스단차측정과달리SWLIM은시료전처리가거의또는전혀필요없는비접촉기술입니다。