微粒学全自动亚筛分粒径分析仪(SAS)二世通过透气性测定粒度,表面积和粉床孔隙率。
微粒学SAS II直接基于广泛使用的费氏95型亚筛分粒度仪(模拟量)开发,是其现代化的后继产品,可利用内置计算机和触摸屏在实验室环境或生产车间轻松,快速地执行测量。数据可以电子表格或PDF格式保存,打印或导出。
利用内置的费氏绘图功能,微粒学全自动亚筛分粒径分析仪二世生成的“费氏粒度”结果与其前代产品(费氏FSSS)高度一致。这一点非常关键,因为几十年来许多行业一直将透气性测试技术和FSSS用作基准。许多应用仍在使用历史数据和质量控制标准，因此利用现代化的仪器产生具备可比性且可重复的结果十分必要。
特性与优点：
- 优质软件——为仪器操作,数据采集和处理,报告及系统集成设定了全球适用的标准
- 设置快速简便——按简单的步骤进行设置,易于遵循,确保不遗漏任何参数
- 实时数据显示——可在获取数据时同步查看,从而简化方法开发
- 费氏绘图——通过可自定义的费氏相关性优化数据一致性
- ASTM认证——完全符合针对氧化铝,二氧化硅和金属粉末及相关化合物的粒度的ASTM B330-12和C721-14标准。B330-15——金属粉末;C721-15 -氧化铝,二氧化硅,陶瓷和E2980 - 15一般粒度
- 全自动分析——样品压实和压力稳定性由计算机控制,可实现高重复性
- 报告生成——自动创建带有自定义公司徽标和字体样式的PDF报告
- 安全功能——可通过可选的密码保护将样品与用户ID联系起来,并保护配置参数免遭未经授权的更改
- 功能强大、直观易懂的全新触摸屏——用户界面提高了工作效率,并能够轻松创建和检索SOP和收集的数据
规格
实体规格
| 高度 | 55厘米(21.7英寸) |
| 宽度 | 50厘米(19.7英寸) |
| 深度 | 38厘米(15英寸) |
| 重量 | 28公斤(61.7磅) |
电气
| 电压 | 120年休假至240 VAC |
| 频率 | 50赫兹至60赫兹 |
| 电源 | 1 |
粒径范围
| 粒径范围 | 0.2 - 75um |
孔隙率范围
| 孔隙率范围 | 0.2 - 0.9% |
压缩精度
| 压缩精度 | < 0.05毫米 |
什么是透气性粒径测定？
透气性测定技术已经十分成熟,可用于测量样品粉末的比表面积(SSA)。利用该技术测定的SSA数据已广泛应用于多个行业,例如制药,金属涂料,颜料,甚至是地质等行业的样品测定。
麦克风SAS II使用双压力传感器来测量粉末填充床的压降。通过改变样品高度和孔隙率,同时控制通过样品的空气流速,可以使用Kozney-Carmen方程确定SSA和平均粒径。
配件
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软件
步骤1 -标准操作步骤,创建或查看可用的SOP
步骤2 -主屏幕:麦克风SAS从下拉菜单中选择SOP,输入样品信息并单击开始
3步骤——记录:查看收集的包含粒径和SA摘要的数据
步骤3 b -记录屏幕的报告查看收集的数据
额外信息： 仪器 查看仪器状态和手动控制
