Sedigraph III加5125

Sedigraph III Plusは，D10，D50，D90，D90，D90，D90，D90などなどのの测定しボタンボタン操基本レポート详细ますをを。装饰して，生产工程を的にし，收集したデータネットワークネットワーククラウドで共て，リモートアクセスできます。

特价と利点：

インテリジェントな设计机械

SEDIGRAPH III加は、再現性の高い測定を容易に実行できるよう、高度な計装機能を提供します。 新機能が追加されたことで、装置の運用とメンテナンスがさらに容易になり、測定結果を様々な場所で確実に再現できるようになりました。

设计の改善项目は次のとおりです。

• 全全子径范囲を测定を：0.1μm未満の小さい粒子を，投入されたサンプルの子をすべて确実に测定
• データの结合：他のの子径测定径测定法によるデータを结して，レポートの対象范囲を125,000μm（125 mm）までまで张することができ，地址学のことができに最适
• 沉降セルのスキャン：
• 全自动仪器：サンプルのスループットを高め、オペレーターの介入を削減して人為的ミスのリスクを低減
• 测定时の温度制御：測定中に液体の特性が一定に保たれるため、再現性の高い正確な測定結果を保証
• 分数の测定速度に対応：ニーズに応じて最适なととととののを选択可以
• リアルタイム表示：进行中の测定を累积质プロット监视できるので，必要に応じて直ちに手顺を変更可以
• 统计的プロセス经理（SPC）レポート：プロセスの成果を追跡し、変動が生じた場合に直ちに対応可能
• プロットの重ね合：复のの结果の比较（标准サンプルの测定结果との比较などなどなどなど异なるののの合物
• データ比较プロット：2つのデータセットの数学的な差（標準プロットとの差）、または許容範囲を上回る、もしくは下回るデータポイント値（規格外のプロット）をグラフで表示
• 复の2台のSediGraph IIIを1台のコンピューターで同時に運用することができるので、研究室の省スペース化を実現し、データの保存が容易に

仕様

粒子径の范囲：	300〜0.1μm（等価球直径）
接液材料：	ステンレススチール，テフロン®含含阳锰化，ニッケルめっきアルミニウム，ナイロン，ポリプロピレン，ポリスチレン，タイゴン®ファーメド®チューブ类，タングステンカーバイド，エルタライト®，バイトン®，ブナnおよび
サンプルサイズ：	5.0 mLの分散サンプル（正確な濃度は不要）
悬浊液：	サンプルセル材料ににし，X线吸收率が低い体（一般的にに使されるれるは水，グリコール，鉱油，sedisperse®およびアルコール）
电气要件：	85〜264 Vac，47/63 Hz，450 VA
温度：	動作温度：周囲温度+10～40 °C、保管または配送温度：-10～55°C
湿度：	20〜80％（结露结露こと）
その他：	ISO 9001（制造）およびce认证取得済み
物理仕様：	高さ： 52 cm 幅：50.5厘米 奥行：58厘米 销量：43 kg

技術

Micromeriticsの墓穴は，世界世界地の多くの室でななています苛酷なれ続けいますますであれなであれであれますますのの制造であれ届いたた室，のききたた研，Sedigraphは正确な结果と卓越した頼性をを提供し続けいいいをでではははははををををををし径径を质を测定しし径径の质ははしますによってのの质ははますます直接测定さささささささささささささstokes（ストークス）ののの従って沉降は球测定算出します范囲300〜0.1μmです。

次世代のSediGraph III Plusは、この実証済みの手法と新技術を組み合わせることで、粒子径データの精度と再現性を向上させており、ほとんどの測定を数分以内に完了させることができます。

全全子径范囲を测定を：0.1μm未満の小さい粒子を，投入されたサンプルの子をすべて确実に测定

データの结合：他のの子径测定径测定法によるデータを结して，レポートの対象范囲を125,000μm（125 mm）までまで张することができ，地址学のことができに最适

沉降セルのスキャン：

全自动仪器：サンプルのスループットを高め、オペレーターの介入を削減して人為的ミスのリスクを低減

测定时の温度制御：測定中に液体の特性が一定に保たれるため、再現性の高い正確な測定結果を保証

分数の测定速度に対応：ニーズに応じて最适なととととののを选択可以

リアルタイム表示：进行中の测定を累积质プロット监视できるので，必要に応じて直ちに手顺を変更可以

统计的プロセス经理（SPC）レポート：プロセスの成果を追跡し、変動が生じた場合に直ちに対応可能

プロットの重ね合：复のの结果の比较（标准サンプルの测定结果との比较などなどなどなど异なるののの合物

データ比较プロット：2つのデータセットの数学的な差（標準プロットとの差）、または許容範囲を上回る、もしくは下回るデータポイント値（規格外のプロット）をグラフで表示

复の2台のSediGraph IIIを1台のコンピューターで同時に運用することができるので、研究室の省スペース化を実現し、データの保存が容易に

適用分野

セラミックス：�，细孔构造の制御，适切な成毛面强度の，所ののや，外観，密度を有する最终制品の制造役立ちます。

金属粉末：粒粒径によりによりによりことに设计することができことができことにの场することができますをきく性性ししするきくきくきく左右ししことにきく设计するししことにきく设计左右ししことこときく设计径ししすることこと径径左右制御ことことこと径径左右ますことことに径径左右ますことことこと设计径左右ことことことにきく径ことますことことにに设计左右ことことl体内およびおよび最终最终强度や密度决定するな要因となりする重要要因となります。

地址·土壌科学：结晶粒径は，土壌土壌の水力，排水速度，养分别保持に，运搬作用。

化妆品：タルクなどのベース粉末や着色用顔料の粒子径分布は、化粧品の外観や用途、包装に影響を与えます。

顔料：粒子径は，それ自体が色材のに色が大声ほど，必要必要色强度得るの子径はしため粒子径はし。。また，光纤や质感，彩度，明显もも子径分布の影响を受け。

触媒：粒子径は、構造に敏感な触媒反応に用いる金属の触媒活性に影響を与えます。

建设资材：セメントの粒子径は、完成したコンクリートとセメントの凝結時間や強度特性に影響を与えます。

鉱物·制剂化学产品：材料の反応性は、露出表面積と密接に関連するため、粒子径分布に依存します。

研磨剤：スラリー，干式ブラスト，砥石のいずれの形で利用するするも，砥粒や粉末のの子径についてについて适切バランスを考虑こと适切ととなりなり粒ことこと基均なりであればことが径均であれであればばマシンにおける均であれであればばマシンにおける均であれであれ[

アクセサリー

アクセサリーの見積り

ソフトウェア

使用性の高度データプレゼンテーションとレポートシステム

Sedigraph III加上には，Windowsベースベースののあらゆる便利な机械をを，使い使い泛泛の高度ユーザーインターフェイスインターフェイス搭载さていますがますますます。を插入してカスタマイズできるできる，グラフグラフ编集，図表図表＆ペースト，データのエクスポートなど含ま含まれますますます。スキルにかかわらず、同じ手法と条件で測定を継続できます。 生データを収集、整理、アーカイブおよび削減できるほか、標準化されたサンプル情報と分析条件を保存して、将来の適用事例で容易に活用作者：王莹

データレポートの作成

Sedigraph III加では，300〜0.1μmのの子に关键词な测定データを自动的にののできできできできできますますますますますます径に径ににににににをデータをデータををををををををををををデータををををわせてててののデータデータとわせわせ，125,000〜0.1μmの粒子に关键词

測定データは表形式のほか、次のような各種グラフを用いたプロット表示が可能です。

• 累积批量·面积·面积数
• 沈降速度分布
• プロセス管理図
• 対数确率纸
• ベースベース/フルスケール标准曲曲
• 頻度分布
• 标准との差
• 规格外
• ロジン·ラムラー（Rosin-Rammler）分布
• 回帰分享

プロットを综合わ，异なるサンプルの测定や，同じサンプルに关键词これこれすることができます测定によりもはに测定结果のもににます。ので，グラフデータを绵密に查およびのの。表およびグラフx轴轴てててててて，ф単位（ф= -log2（粒子毫米））また，表形式で沉降速度たたた。CM / S）のの选択も利用できます。