
Sedigraph III加는직접질량농도검출으로으로d10,d50및d90과같은입도분포및를를합니다。버튼터치만으로기본및고급보고기능을사용할수있습니다。Sedigraph III加는생산공정의지속적인을위해위해위해위해
특징및장점:
지능형설계기능
Sedigraph III加는측정을반복가능하고하고쉽게수행할수있도록하는의의고급기능제공제공제공。
설계개선사항은다음과같습니다。
- 입자입자에대한완전한측정으로0.1μm미만미만부분을하여투입된모든시료에분석을보장보장
- 다른입도분석방법과데이터를를병합하는하는으로보고된데이터의범위를125,000μm(125mm)까지확장하여지질학응용분야적합합니다。
- 아래에서위로침강셀을스캔
- 완전자동화된작동으로으로처리량이증가하고작업자개입이감소할뿐만아니라인적가능성이줄어듭니다오류이에。
- 온도제어분석특성분석전반에걸쳐의에이일정하게유지되므로정확하고가능한한결과를확신할수수수수수수수수수수수수수수수수수수
- 다양한분석속도를통해필요에맞는속도와분해능의조합을선택할수있습니다。
- 실시간디스플레이00
- 통계적공정관리(SPC)보고서는공정의성능을추적하여변동에즉시대응할수있도록합니다。
- 플롯중첩을통해하나이상의분석에서얻은결과를시각적으로비교할수있습니다。예를들어참조또는기준선분석이나동일한분석데이터의서로다른두가지유형의플롯을중첩할수있습니다。
- 데이터비교플롯은두데이터세트간의수학적차이(기준플롯과의차이)또는허용오차경계의위또는아래의측정값범위를그래픽으로표시합니다(기준일탈플롯)。
- 다중분석기제어를통해두대의SEDIGRAPH III를단일컴퓨터에서동시에작동할수있으므로귀중한실험실공간을절약할수있고데이터를편리하게저장할수있습니다。
使用方法
입경범위: | 300 ~ 0.1마이크로미터,등가구직경 |
접액재료: | 스테인리스강,特富龙®함침양극산화알루미늄,니켈도금알루미늄,나일론,폴리프로필렌,폴리스티렌,聚乙烯®및制药®튜브,텅스텐카바이드,Ertalyte®,氟橡胶®,丁腈橡胶,및에폭시 |
시료크기: | 분산된시료50ml - 정확한농도는필요하지하지 |
부유액체: | 시료셀재료와양립가능하고x선흡수율이높지않은모든액체(일반일반인액체물,글리콜,광물유,sedisperse® |
전원요구사항: | 85 ~ 264VAC, 47/63Hz, 450VA |
온도: | 작동시주위온도+10〜40°C,보관또는운송시-10〜55°C |
습도: | 20〜80%(비응축) |
기타사항: | 公元9001年ISO제조사인증 |
물리적사양: | 높이:52cm(20.5英寸) 너비:50.5cm(20in) 깊이:58cm(23in) 무게:43kg(95磅) |
기술
Micromeritics Sedigraph는전세계의실험실에서분석용으로꾸준히선호되는표준기기입니다입니다기기기기기기기기SEDIGALAPH는가혹한한생산생산환경통제통제통제된된된든여전히여전히뛰어난신뢰성으로한결과를산출하고하고하고한결과를산출하고하고입도입도분포는침강법을을을측정측정측정입자질량은X선흡수를사용하여직접측정합니다。墓碑는斯托克斯법칙에따라알려진특성을가진액체내중력에의해침강입자의속도를측정하여하여하여마마등등등등등합니다합니다합니다합니다합니다합니다합니다합니다합니다。
차세대SediGraph III +는이입증된기법과신기술을결합하여재현성있고매우정확한입도정보를제공하며대부분의분석을몇분안에완료합니다。
입자입자에대한완전한측정으로0.1μm미만미만부분을하여투입된모든시료에분석을보장보장
다른입도분석방법과데이터를를병합하는하는으로보고된데이터의범위를125,000μm(125mm)까지확장하여지질학응용분야적합합니다。
아래에서위로침강셀을스캔
완전자동화된작동으로으로처리량이증가하고작업자개입이감소할뿐만아니라인적가능성이줄어듭니다오류이에。
온도제어분석특성분석전반에걸쳐의에이일정하게유지되므로정확하고가능한한결과를확신할수수수수수수수수수수수수수수수수수수
다양한분석속도를통해필요에맞는속도와분해능의조합을선택할수있습니다。
실시간디스플레이00
통계적공정관리(SPC)보고서는공정의성능을추적하여변동에즉시대응할수있도록합니다。
플롯중첩을통해하나이상의분석에서얻은결과를시각적으로비교할수있습니다。예를들어참조또는기준선분석이나동일한분석데이터의서로다른두가지유형의플롯을중첩할수있습니다。
데이터비교플롯은두데이터세트간의수학적차이(기준플롯과의차이)또는허용오차경계의위또는아래의측정값범위를그래픽으로표시합니다(기준일탈플롯)。
다중분석기제어를통해두대의SEDIGRAPH III를단일컴퓨터에서동시에작동할수있으므로귀중한실험실공간을절약할수있고데이터를편리하게저장할수있습니다。
응용분야
세라믹:입도입도범위와각크기등급의질량분포는세라믹분말소결하는능력과세라믹분말분말특성및완제품완제품의기공기공기공영향을을을영향영향을미칩니다을영향영향을미칩니다미칩니다영향영향을을
금속분말:00기공률특성은일반적으로제품성능의핵심요소입니다。입도분포는세라믹과마찬가지로성형체와최종제품의강도와밀도에매우중요합니다。
지질학/토양학:입도는토양의수분보유능력,배수율및토양의양분보유능력에영향을미칩니다。입도는퇴적물의이동과직접적인관련이있습니다。
화장품:
색소:입도만으로도색상의착색력에영향을줄수있습니다。착색력이높아지면필요한색강도를생성하는데필요한색소의양이줄어듭니다。입도는페인트의은폐력에영향을미칩니다。또한입도분포는광택,질감,채도,밝기에영향을줍니다。
촉매:입도는구조민감촉매반응에대한금속의촉매활성에영향을미칩니다。
건축재료:00
광물및무기화학물질:물질의반응성은노출표면적과입도분포에따라달라집니다。
연마재:이에에인고려관계없에에에에무료와와와에에무료다없。
액세서리
액세서리견적요청
소프트웨어
다기능데이터표시및보고시스템
Sedigraph III Plus♥Windows기반기반에서사용자가기대하는모든편리한기능제공하는다기능사용용사용자인터페이스를를갖추고갖추고이러한기능에는마우스로이용가능한한,실험실로고그래픽그래픽하여사용자정의할수수보고서보고서넣기넣기과한그래프보고서붙여,데능한및붙여넣기넣기데표보내기등에이있습니다。맞춤형프로토콜을통해분석을계획,실행및제어할수있으며,작업자의기량에관계없이후속분석을모두동일한방식으로수행할수있습니다。원시데이터를수집,정리,보관및축소하고이후의응용프로그램에서쉽게액세스하기위해표준화된시료정보및분석조건을저장할수있습니다。완성된보고서는화면,종이에생성하거나다양한형식으로저장장치에전송할수있습니다。
데이터보고
SediGraph III +는300 ~ 0.1µm범위의입자에대한자세한분석데이터를자동으로제공합니다。125000 ~ 300µm범위의다른입도분석에서수집된데이터를SediGraph데이터와결합하여125000 ~ 0.1µm범위의입자에대한효과적인보고가가능합니다。
표형식데이터외에도다음과같은다양한그래픽분석플롯유형을사용할수있습니다。
- 누적질량,면적및수
- 침강속도분포
- 공정관리차트
- 로그확률
- 기준선/전체참조
- 도수분포
- 참조와의차이
- 기준일탈
- Rosin-Rammler.
- 회귀분석
다른시료의결과를비교하거나동일한시료의다른플롯유형을비교하기위해플롯을중첩할수있습니다。이를통해분석결과를기준값과비교할수있습니다。플롯의크기를조정하여그래픽데이터를면밀히조사할수있습니다。φ단위로입도를보고하는그래프의x축선택과표에열이추가되었습니다。여기서Ф= - log2(입경(mm))입니다。또한표에서침강속도(cm / s)에대한열선택이가능합니다。플롯의x축을입도또는침강속도에따라축척을변경할수있습니다。
Sedigraph II加자료
애플리케이션노트
- Sedigraph를이용한한다공성다공성분말의입도
- 입자형상이입도측정에미치는영향
- 중력침강입자크기분석을위한부유유체점성요건
- SediGraph입도분석기를이용한입경보고
- Opt5120유틸리티프로그램을사용한墓草고속분석
- OPT5120유틸리티프로그램을사용한sedigraph기준선및전체평균화
- 새로운MasterTech펌프
- Sedigraph시료정보파일의데이터에에새로운기준선
표준분석법
ISO 13317-3중력액체침강법에의한입도분포측정 - 파트3:x-선중력기법 |
ASTM B761중력X-선모니터링에의한금속및관련화합물의입도분포표준방법 |
ASTM C110생석회,소석회소석회및석회석의물리적시험을위한표준시험 |
ASTM C958중력X-선모니터링에의한알루미나석영의입도분포표준시험방법 |
ASTM C1730중력침강x-선모니터링에의한첨단의입도분포표준시험방법 |